Máy đo nhiễu xạ tia X đa năng, tự động cho mẫu bột XRDynamic 500

Lượt xem:
2244
Thương hiệu:
Anton Paar
Giá:
Liên hệ

Ngoài hộp: Độ phân giải / tỷ lệ tín hiệu nhiễu tốt nhất trong lớp
Khái niệm TruBeam™: Bán kính goniomet đầy đủ lớn, đường chùm bức xạ được hoàn tác
Tự động hoàn toàn: Định hình quang học X-quang và thay đổi hình học chùm
Hiệu quả: Tăng cường sử dụng thiết bị lên đến 50%
Tự căn chỉnh: Thiết bị và mẫu để tối đa sự tiện lợi

XRDynamic 500 mang lại chất lượng dữ liệu XRD vô đối với hiệu suất tối đa. Hãy tận hưởng những lợi ích của một nền tảng linh hoạt bao gồm nhiều ứng dụng với các giải pháp tối ưu cho phân tích bột XRD, XRD phi không khí, phân tích PDF, SAXS và nhiều hơn nữa. Dễ sử dụng, với quy trình quang học và cân chỉnh hoàn toàn tự động, nó cho phép mọi người, từ người mới bắt đầu đến chuyên gia, thu thập dữ liệu XRD chất lượng cao một cách nhanh chóng mà giảm thiểu lỗi. XRDynamic 500: Điều khiển XRD.

Đặc điểm chính

Chất lượng dữ liệu không đối thủ

Khái niệm TruBeam™ của XRDynamic 500 kết hợp một bán kính goniometer lớn, một hành lang chùm tia chân không và sự thay đổi quang học/định hình chùm tia X-ray hoàn toàn tự động. TruBeam™ đảm bảo chất lượng dữ liệu tốt hơn so với các máy nhiễu xạ X-ray thông thường. XRDynamic 500 cung cấp độ phân giải tốt nhất trong lớp (FWHM 0.021° cho đỉnh chuẩn LaB₆ thứ nhất) với cấu hình Bragg-Brentano tiêu chuẩn, cũng như tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu vượt trội với tối đa 50 % ít hơn nền đo và tán xạ không khí nhiễu tối thiểu. Thiết bị tự căn chỉnh để có điều kiện đo lường tối ưu và kết quả đáng tin cậy.

Tự động hóa hoàn toàn: Hiệu suất tối đa

Tự động hóa hoàn toàn quang học, hình học chùm tia, các giai đoạn và xử lý mẫu với XRDynamic Autosampler đảm bảo hiệu quả tối đa mà không làm giảm chất lượng dữ liệu. Với khả năng chứa lên đến 105 mẫu – sử dụng các giá đỡ tiêu chuẩn ngành – nó thiết lập một tiêu chuẩn mới cho việc đo XRD tự động, hiệu suất cao. Nhanh chóng thay đổi cấu hình (ngay cả ống X-quang), nhờ vào các đầu nối nhanh và tự động căn chỉnh, và sẵn sàng hoạt động trở lại trong thời gian ngắn. Tự động hóa hoàn toàn tất cả các quang học – bao gồm bộ hấp thụ/lọc, mặt nạ chùm tia, khe Soller, khe phân kỳ, khe chống tán xạ, và các bộ định hình tấm song song – cho phép người dùng hoàn toàn thay đổi cấu hình đo lường trong chớp mắt, mà không cần tương tác thủ công, và đo các loại mẫu khác nhau. Sử dụng tối đa ba hình học chùm sáng trong một lô đo lường duy nhất, với tất cả các gương và máy phân tích đơn sắc được lắp đặt trong một chồng quang học tự động hóa.

Độ chính xác tự động: Tiện lợi hàng ngày

Khái niệm tần số nguồn được cấp bằng sáng chế với một trục nghiêng bổ sung cung cấp sự căn chỉnh tự động, chính xác của tất cả các thành phần quang học với bất kỳ nguồn X-quang nào. Tận dụng cường độ chùm tia chính tối đa nhờ vào việc căn chỉnh tự động với góc xuất phát tia X hoàn hảo cho tất cả các gương tia X và các monochromator phẳng. Kết nối dễ dàng của tất cả các giai đoạn cho phép thay đổi thiết lập nhanh chóng, trong khi việc nhận diện thành phần tự động cho cả quang học và các giai đoạn đảm bảo cấu hình thiết bị chính xác mọi lúc.

XRDynamic 500 đáp ứng yêu cầu của cả chuyên gia và người mới bắt đầu. XRDynamic và phần mềm điều khiển XRDdrive kết hợp một cách liền mạch việc thao tác dụng cụ dễ dàng và các quy trình làm việc trực quan với nhiều chi tiết như bạn muốn, và ít như bạn cần, nhờ vào khả năng tự động hóa thông minh. Tất cả các kết nối cần thiết cho các thí nghiệm không môi trường đều nằm trực tiếp trong vỏ máy nhiễu xạ. Tùy chọn của một đơn vị điều khiển không môi trường tích hợp (CCU) tạo điều kiện làm việc với và chuyển đổi giữa các phụ kiện không môi trường khác nhau.

Đầy đủ linh hoạt: Cho mọi ứng dụng

XRDynamic 500 kết hợp tính linh hoạt đo lường tối đa trong một nền tảng máy phân tích nhiễu xạ X-ray duy nhất. Dù bạn sử dụng nó cho việc phản chiếu, truyền tải, hoặc nghiên cứu không môi trường, XRDynamic 500 cung cấp các giai đoạn mẫu và giá đỡ cho mọi trường hợp sử dụng. Sử dụng các thiết lập dụng cụ đa năng cho mọi ứng dụng với các giải pháp tối ưu cho XRD bột, XRD không môi trường, phân tích PDF và SAXS. Các thành phần chất lượng cao được sản xuất tại chỗ và công nghệ phát hiện pixel tiên tiến làm cho đây trở thành một công cụ chất lượng cao.

Đối với các ứng dụng có thông lượng cao, XRDynamic Autosampler cho phép phân tích không giám sát lên đến 105 mẫu của tất cả các loại - bao gồm vật liệu rời, bột, sợi, màng mỏng, và thậm chí là các mẫu nhạy cảm với không khí - trong khi liên tục đảm bảo chất lượng đo lường tối ưu.

Chuyên môn nổi tiếng

Người dùng được hưởng lợi từ dịch vụ được chứng nhận và đủ điều kiện trên toàn cầu, với sự hỗ trợ cá nhân tận tâm – tối đa hóa thời gian hoạt động. Chúng tôi không chỉ bán một công cụ, chúng tôi đồng hành cùng bạn trong suốt vòng đời sản phẩm. Hỗ trợ ứng dụng và lời khuyên từ các chuyên gia của chúng tôi giúp bạn đạt được kết quả có ý nghĩa một cách nhanh chóng và hiệu quả cho tất cả các nhu cầu ứng dụng của bạn. Cùng với bạn, chúng tôi đẩy giới hạn của công nghệ.

Thông số kỹ thuật

Nguồn tia X
Loại nguồn	Primux 3000
máy phát X-quang	Lên đến 3 kW
Điện áp / dòng điện ống	20 kV đến 60 kV / 2 mA đến 50 mA
Goniomet
Cấu hình	Hình học θ/θ theo chiều dọc
Phạm vi đo lường	360 hoặc 400 mm
Phạm vi góc tối đa có thể sử dụng	-95° đến 162,5° 2θ
Kích thước bước tối thiểu	± 0,0001
Độ tuyến tính	≤0,01°
Tốc độ tối đa	15 °/giây
Độ phân giải góc tối đa	0,021° (FWHM của đỉnh LaB₆ thứ nhất)
Mẫu giai đoạn và phụ kiện
Giai đoạn mẫu môi trường	Giai đoạn mẫu cố định Giai đoạn mẫu quay (phản xạ/truyền) Giai đoạn XY (với tùy chọn tự động lấy mẫu) Giai đoạn quay mao quản Mô-đun EVAC
Các phụ kiện XRD trong điều kiện khác với điều kiện phòng	HTK 1200N HTK 16N/2000N HTK 1500 TTK 600 XRK 900 CHC plus⁺ BTS 150/500
Đầu dò	Cảm biến pixel lai trạng thái rắn: Máy phát hiện Pixos 2000 (chế độ 0D và 1D) Detector Pixos 2000 CdTe (chế độ 0D và 1D) cho tia X năng lượng cao
Phần mềm	XRDdrive: phần mềm điều khiển hệ thống và thu thập dữ liệu Phân tích XRD: phần mềm xử lý và phân tích dữ liệu cho phân tích pha định tính và định lượng, phân tích cấu trúc vi mô, và tinh chỉnh Rietveld XRDview: gói vẽ đồ thị và hiển thị dữ liệu Gói XRDynamic 21 CFR Part 11: hỗ trợ công việc trong môi trường có quy định và tuân thủ quy định 21 CFR Part 11 của FDA Mỹ
Đặc điểm chung
Kích thước bên ngoài (chiều rộng x chiều sâu x chiều cao)	1350 mm x 1160 mm x 1850 mm
Trọng lượng (không bao gồm các phụ kiện tùy chọn)	750 kg
Nguồn cấp	3-Phase: 3/N/PE AC 400/230 V, 50…60 Hz, 25 A; 1-Phase: 208…240 VAC, 50…60 Hz, 36 A
Công suất tiêu thụ tối đa (không bao gồm các bộ điều khiển bổ sung cho thiết bị tùy chọn)	5,5 kW
Cung cấp nước làm mát	Lưu lượng: > 3.6 L/phút, Áp suất: 4.5 – 6 bar, Nhiệt độ: < 25 °C

emco GPR là thiết bị kiểm tra độ mịn theo phương pháp Bekk cho giấy với khả năng tự động bù trừ áp suất không khí. Độ mịn hoặc độ thô là một tính chất bề mặt quan trọng của giấy, bìa và thùng carton. Chất lượng cấu trúc bề mặt có ảnh hưởng lớn đến khả năng in ấn và bất kỳ hình thức phủ lớp nào. Độ mịn Bekk là một phương pháp được sử dụng rộng rãi trong ngành công nghiệp giấy dựa trên dòng khí. Càng chậm khí chảy giữa bề mặt giấy và mặt phẳng lý tưởng, độ mịn càng cao, được biểu thị bằng giây độ mịn Bekk. Hình dạng, tổng thể tích cũng như sự phân bố của các lỗ hổng ở bề mặt tiếp xúc quyết định đến độ mịn. Khác với phương pháp PPS và Bendtsen, phương pháp Bekk kiểm tra một khu vực giấy đại diện có diện tích khoảng 10 cm².

Liên hệ