Máy Quang Phổ Đo Màu UltraScan PRO cho ngành dệt may

Lượt xem:
700
Thương hiệu:
Hunterlab - Mỹ
Giá:
Liên hệ

- Máy quang phổ đo màu CIE đo màu phản xạ và màu truyền qua
- Dải bước sóng 350 nm - 1050 nm với độ phân giải quang học 5 nm và khoảng thời gian báo cáo
- Hiệu chuẩn và kiểm soát UV tự động
- Khoang truyền dẫn lớn mở ở ba mặt
- Bao gồm phần mềm kiểm soát chất lượng (QC) EasyMatch

Dệt May

Thông số kỹ thuật

1. Sự đo lường

Nguyên lí đo: Máy quang phổ chùm tia kép

Hình học: Phản xạ khuếch tán d/8°, truyền tổng d/8°, truyền đều d/0°

Máy đo quang phổ: Hai máy đa sắc, mỗi máy có mảng diobe 512 phần tử và cách tử ba chiều lõm có độ phân giải cao

Đường kính quả cầu: 152mm(6 in.)

Lớp phủ hình cầu: Spectraflect™ cho hình cầu, Duraflect™ cho tấm cổng và cửa loại trừ gương

Kích thước cổng/ Diện tích đo:

Đường kính cổng/Đường kính xem ở chế độ phản xạ RSIN/RSEX
- Chế độ xem khu vực rộng (LAV): chiếu sáng 25 mm (1 in)/đo 19 mm (0,75 in)
- Chế độ xem khu vực trung bình (MAV): chiếu sáng 13 mm (0,5 in)/đo 9 mm (0,35 in)
- Chế độ xem khu vực nhỏ (SAV): chiếu sáng 7 mm (0,25 in)/đo 4 mm (0,16 in)
Đường kính cổng/Đường kính xem ở chế độ truyền TTRAN
- Chế độ xem khu vực rộng (LAV): chiếu sáng 25 mm (1 in)/đo 17,4 mm (0,69 in)
- Chế độ xem khu vực trung bình (MAV): chiếu sáng 25 mm (1 in)/đo 13,2 mm (0,52 in)
- Chế độ xem khu vực nhỏ (SAV): chiếu sáng 25 mm (1 in)/đo 11,6 mm (0,46 in)
Đường kính cổng/Đường kính khung nhìn ở chế độ truyền qua RTRAN trong đó ống kính dừng trường cho tất cả các khu vực quan sát
- Chế độ xem khu vực rộng (LAV): chiếu sáng 17 mm (0,67 in)/đo 17 mm (0,67 in)
- Chế độ xem khu vực trung bình (MAV): chiếu sáng 17 mm (0,67 in)/đo 17 mm (0,67 in)
- Chế độ xem khu vực nhỏ (SAV): chiếu sáng 17 mm (0,67 in)/đo 17 mm (0,67 in)

Chuyển đổi ống kính cho LAV/MAV/SAV: Tự động

Thành phần phản xạ: Bao gồm tự động(RSIN) hoặc loại trừ(RSEX) trong phản xạ

Dải quang phổ : 350nm-1050nm toàn bộ dải nhìn thấy CIE cộng với NIR

Độ phân giải bước sóng: < 2nm

Băng thông hiệu quả: hình tam giác tương đương 5nm

Khoảng thời gian báo cáo: 5 nm

Phạm vi trắc quang: 0-150%

Nguồn sáng: Đèn Xenon xung(3), được hiệu chỉnh và kiểm soát trong phạm vi tia cực tím

Kiểm soát tia cực tím tự động:

Bộ lọc cắt 400 nm để kiểm soát tia cực tím và loại trừ tia cực tím
Bộ lọc cắt 420 nm tùy chọn để loại trừ tia cực tím

Chế độ truyền: Tổng (TTRAN) và thông thường (RTRAN)

Khoang truyền động:

Lớn và thông thoáng về 3 mặt
10,2 cm DX 35,6 cm R x 16,5 cm H (4 inch D x 14 inch W x 6,5 inch H)

Tiêu chuẩn phù hợp

Độ phản xạ: CIE 15:2004, ISO 7724/1, ASTM E1164, DIN 5033, Teil 7 và JIS Z 8722 Điều kiện C
Độ truyền qua: CIE 15:2004, ASTM E1164, DIN 5033 Teil 7 và JIS Z 8722 Điều kiện E, G Tuân thủ khói mù theo tiêu chuẩn ASTM D1003 Phần 8. Quy trình B Máy quang phổ

Truy xuất nguồn gốc tiêu chuẩn: Việc ấn định tiêu chuẩn thiết bị phù hợp với Viện Tiêu chuẩn và Công nghệ Quốc gia (NIST) theo các thông lệ được mô tả trong ấn bản CIE 44 và ASTM E259

2. Hiệu suất

Độ lặp lại đo màu (20 bài đọc):

< 0,03 ∆E* CIE L*a*b * trên ô màu trắng ở chế độ LAV
< 0,07 ∆E* CIE L*a*b* trên ô denim màu xanh ở chế độ LAV

Độ lặp lại quang phổ: Phạm vi tối đa 0,20 trong khoảng từ 435nm đến 695nm

Thoả thuận giữa các công cụ:

∆E*< 0,09 CIE L*a*b* (Trung bình) trên Bộ Ngói BCRA II
∆E*< 0,20 CIE L*a*b* (Tối đa) trên Bộ Ngói BCRA II

Tập tin PDF:

Sản phẩm cùng loại

Chi tiêt Xem nhanh

Máy kiểm tra độ bền xé Elmendorf GT- C11A

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Ứng dụng: Máy kiểm tra độ xé Elmendorf được thiết kế để kiểm tra độ bền xé của vải dệt, vải không dệt, giấy, bìa cứng, màng mỏng, băng thông gió, vật liệu tấm kim loại, v.v.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy đo độ bụi bẩn dirty, stickies giấy tissue Micro-Scanner

Hãng sx: OpTest - Canada

Micro-Scanner đo độ bẩn có thể nhìn thấy bằng ánh sáng thích hợp và ngưỡng tự động theo Phương pháp thử nghiệm Tappi T563 và ISO 5350-4 [không cần điều chỉnh của người vận hành]. Micro-Scanner cũng đo chất lượng tạo tờ, các điểm tương phản ánh sáng như nhựa (có ánh sáng phản chiếu) hoặc lỗ kim (có ánh sáng truyền qua) và độ đồng đều của hình ảnh in rắn. Thiết bị tiêu chuẩn bao gồm bộ nạp dải và các phép đo bằng ánh sáng phản chiếu hoặc truyền qua.

Liên hệ

Chi tiêt Xem nhanh

Máy phân tích hình thành giấy Paper Perfect (PPF)

Hãng sx: OpTest - Canada

Paper Perfect Formation Analyzer (PPF) cách mạng hóa việc tối ưu hóa chất lượng sản phẩm và năng suất bằng cách đo độ đồng đều của tờ giấy ở các “thang độ hình thành” khác nhau. Kết quả đã được chứng minh là có mối tương quan rất tốt với đánh giá trực quan cũng như với các tính chất vật lý khác của giấy.

Liên hệ