Thiết Bị Phân Tích Diện Tích Bề Mặt & Kích Thước Mao Quản Meso

Thiết Bị Phân Tích Diện Tích Bề Mặt & Kích Thước Mao Quản Meso

  • 53
  • Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ
  • Liên hệ
- Dòng AMI Meso112/222 được thiết kế để xác định diện tích bề mặt và kích thước lỗ xốp với độ chính xác cao của vật liệu dạng bột. Dòng sản phẩm này bao gồm hai mẫu, Meso 112 và Meso 222, cả hai đều được tích hợp bộ chuyển đổi áp suất 1000 torr tại mỗi trạm phân tích để xác định diện tích bề mặt BET chính xác và phân tích sự phân bố kích thước lỗ xốp trung bình.
- Mỗi cổng phân tích được trang bị một mô-đun khử khí tại chỗ có khả năng làm nóng mẫu lên đến 400°C, đảm bảo loại bỏ hiệu quả các chất gây ô nhiễm hấp thụ trước khi phân tích. Quá trình khử khí tại chỗ này giúp loại bỏ nguy cơ ô nhiễm liên quan đến việc chuyển mẫu. Ngoài ra, khi sử dụng nhiều trạm, mỗi trạm hoạt động độc lập, cho phép phân tích đồng thời nhưng riêng biệt các mẫu khác nhau.

- Dòng AMI Meso112/222 được thiết kế để xác định diện tích bề mặt và kích thước lỗ xốp với độ chính xác cao của vật liệu dạng bột. Dòng sản phẩm này bao gồm hai mẫu, Meso 112 và Meso 222, cả hai đều được tích hợp bộ chuyển đổi áp suất 1000 torr tại mỗi trạm phân tích để xác định diện tích bề mặt BET chính xác và phân tích sự phân bố kích thước lỗ xốp trung bình.

- Mỗi cổng phân tích được trang bị một mô-đun khử khí tại chỗ có khả năng làm nóng mẫu lên đến 400°C, đảm bảo loại bỏ hiệu quả các chất gây ô nhiễm hấp thụ trước khi phân tích. Quá trình khử khí tại chỗ này giúp loại bỏ nguy cơ ô nhiễm liên quan đến việc chuyển mẫu. Ngoài ra, khi sử dụng nhiều trạm, mỗi trạm hoạt động độc lập, cho phép phân tích đồng thời nhưng riêng biệt các mẫu khác nhau.

1/ Ứng dụng:

Lĩnh vực ứng dụng

Vật liệu tiêu biểu

Mô tả

Nghiên cứu vật liệu

Bột gốm, bột kim loại, ống nano

Dựa vào giá trị diện tích bề mặt của ống nano, có thể dự đoán khả năng lưu trữ hydro.

Kỹ thuật hóa học

Carbon black, silica vô định hình, kẽm oxit, titanium dioxide

Việc bổ sung carbon black vào nền cao su giúp cải thiện tính chất cơ học của sản phẩm cao su. Diện tích bề mặt của carbon black là yếu tố quan trọng ảnh hưởng đến hiệu suất gia cường của sản phẩm cao su.

Năng lượng mới

Lithium cobalt, lithium manganate

Tăng diện tích bề mặt điện cực giúp cải thiện tốc độ phản ứng điện hóa và thúc đẩy trao đổi ion trong điện cực âm.

Công nghệ xúc tác

Oxit nhôm hoạt tính, sàng phân tử, zeolite

Diện tích bề mặt và cấu trúc lỗ xốp ảnh hưởng đến tốc độ phản ứng.

2/ Thông số kỹ thuật:

Thông số

AMI-Meso 112

AMI-Meso 222

Số cổng phân tích

2

2

Số cảm biến Po

2

2

Số cảm biến áp suất phân tích

1

2

Cảm biến áp suất

1000 torr Độ chính xác: ±0.05% F.S. Độ phân giải: 0.0005% F.S.

Bơm

1 bơm cơ học (độ chân không tới 10⁻¹ Pa; tối thiểu 7.5 × 10⁻⁴ torr)

Dải P/Po

10⁻⁴ – 0.998

Diện tích bề mặt riêng

≥ 0.01 m²/g, độ lặp lại RSD ≤ ±1.0%

Dải kích thước lỗ xốp

0.35 – 500 nm, độ lặp lại ≤ ±0.02 nm (*đo với CO₂)

Thể tích lỗ xốp

≥ 0.0001 cm³/g

Số cổng khử khí

2 in-situ

Khí hấp phụ

N₂, CO₂, Ar, H₂, O₂, CO, CH₄, v.v.

Bẫy lạnh

1

Kích thước & khối lượng

Dài 750 mm × Rộng 472 mm × Cao 977 mm Khối lượng 78 kg (171.6 lbs)

Nguồn điện

110V hoặc 200-240V AC, 50/60 Hz, công suất tối đa 300W

Các tính năng bổ sung bao gồm:

- Phần mềm PAS điều khiển thiết bị, thu thập dữ liệu, xử lý & xuất báo cáo

- Kết nối LAN, hỗ trợ điều khiển nhiều thiết bị từ xa

- Giao diện trực quan, hiển thị thời gian thực trạng thái hệ thống

- Tự động tạo báo cáo với các kết quả:

- Đẳng nhiệt hấp phụ và khử hấp phụ

- Diện tích bề mặt đơn điểm và đa điểm BET

- Diện tích bề mặt Langmuir

- Diện tích bề mặt STSA

- Phân bố kích thước lỗ xốp theo phương pháp BJH

- Biểu đồ t-plot

- Phương pháp Dubinin-Radushkevich

- Phương pháp Horvath-Kawazoe

- Phương pháp Saito-Foley

Tập tin PDF:

Tập tin PDF:

Sản phẩm cùng loại

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Nhiều loại đầu dò tia X đếm photon đơn. ● Bức xạ Kα1 tinh khiết sử dụng nguồn Co, Cu, Mo và Ag. ● Chế độ truyền/Debye-Scherrer hoặc Bragg-Brentano.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Goniometer linh hoạt (giá đỡ Eulerian và nhiều thiết lập chi cố định khác nhau) ● Vùng nhiễu xạ có bán kính nhỏ hơn 0,005 mm ● Đầu dò pixel lai siêu nhanh (phạm vi đầu dò đầy đủ của EIGER và PILATUS)
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Nhiều đầu dò tia X đếm photon đơn. ● Phụ kiện nhiệt độ cao và thấp. ● Lựa chọn hình học bằng cách trượt vỏ ống.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● XRD nhỏ gọn, trọng lượng nhẹ, dễ dàng mang theo. ● Cho kết quả chính xác trong vòng vài phút. ● Phân tích ở bất cứ đâu / Goniometer góc rộng (0°-130°/ -3°-156°).
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

● Được thiết kế để kiểm tra nhiễu xạ tia X truyền qua tại chỗ đối với cell dạng túi. ● Thu thập đồng thời dữ liệu nhiễu xạ tia X của cực âm/cực dương. ● Phạm vi kiểm soát nhiệt độ: -30°C đến 300°C.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

– Phân tích chất hấp thụ trong vật liệu, cho phép đo 02 mẫu đồng thời – Cân treo từ trang được bảo vệ mẫu để tăng cường phản ứng giữa mẫu và môi trường. – Phần mềm được sử dụng để kiểm soát cân và tính toán giá trị
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- Thiết bị sử dụng phương pháp dịch chuyển khí (Gas displacement), với kết cấu nhỏ gọn, không cồng kềnh và các thao tác trở nên đơn giản hơn. - Phương pháp này với ưu điểm chính xác hơn và có khả năng tái tạo hơn so với phương pháp Archimedes truyền thống. Năm 2014, Tổ chức Tiêu chuẩn ISO Quốc tế đã chính thức giới thiệu phương pháp thay thế thể tích khí để kiểm tra tỷ trọng thực.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- STA – Phân tích nhiệt đồng thời là một phương pháp phân tích nhiệt áp dụng đồng thời phân tích nhiệt trọng trường (TGA) và phân tích nhiệt lượng quét vi sai (DSC) cho cùng một mẫu trong một thiết bị duy nhất. Các điều kiện đo phải hoàn toàn giống nhau đối với cả 2 tín hiệu TGA và DSC (cùng một bầu khí quyển, lưu lượng khí, áp suất hơi của mẫu, tốc độ gia nhiệt, tiếp xúc nhiệt với nồi nấu mẫu và cảm biến, hiệu ứng bức xạ, v.v.). - STA Series 650/1000/1200/1500 thế hệ mới của Advanced Measurement Instruments (AMI), tiền thân là Altamira, có hệ phân tích nhiệt đồng thời hiện đại, tích hợp độ phân giải cân siêu nhỏ 0,1 microgam, thuật toán điều khiển thông minh và thiết kế treo mẫu tối ưu. Kết quả là một hệ thống có độ chính xác cao, vận hành ổn định và chi phí hợp lý. STA Series cho phép thực hiện đồng thời TGA và DSC/DTA trên cùng một mẫu chỉ trong một lần chạy. Nhờ đó, người dùng tiết kiệm đáng kể thời gian và vật liệu, đồng thời thu được hồ sơ nhiệt toàn diện.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

TGA – Phân tích nhiệt trọng trường là một phương pháp phân tích nhiệt được thực hiện trên các mẫu để xác định những thay đổi về trọng lượng liên quan đến sự thay đổi về nhiệt độ. Dòng thiết bị TGA Series 1000/1200/1500 của Advanced Measurement Instruments (AMI) mang đến khả năng phân tích nhiệt trọng lượng đạt chuẩn nghiên cứu với mức giá dễ tiếp cận, kết hợp hiệu suất vượt trội và chất lượng ổn định. Được trang bị vi cân siêu nhạy và lò nung hiện đại, nhỏ gọn, TGA Series đảm bảo độ chính xác cao, giảm thiểu hiệu ứng lực đẩy và cải thiện phản hồi nhiệt vượt trội.
Liên hệ

Hãng sx: Advanced measurement instruments (AMI) - Mỹ

- DSC 600 là thiết bị phân tích nhiệt lượng quét vi sai (DSC) thế hệ mới, được thiết kế để đáp ứng nhu cầu ngày càng cao trong các lĩnh vực nghiên cứu vật liệu, kỹ thuật hóa học, kiểm soát chất lượng, hóa dầu và dược phẩm. Với tấm dẫn nhiệt cải tiến, DSC 600 phát hiện chính xác ngay cả những thay đổi năng lượng nhỏ nhất, lý tưởng cho các phép đo enthalpy, chuyển pha thủy tinh, nhiệt kết tinh, độ tinh khiết và nhiệt dung riêng - Lò nung siêu nhẹ mang lại độ dẫn nhiệt và độ ổn định vượt trội trong dải nhiệt rộng. Thiết bị hỗ trợ nhiều loại tấm nhiệt chuyên dụng, giúp linh hoạt tối đa cho mọi nhu cầu kiểm tra trong phòng thí nghiệm. DSC 600 thể hiện sự chính xác, ổn định và tối ưu chi phí cho phân tích nhiệt chuyên sâu
Liên hệ