Máy Đo Màu Quang Phổ Spectrophotometer UltraScan Vis

Máy Đo Màu Quang Phổ Spectrophotometer UltraScan Vis

  • 12557
  • Hunterlab - Mỹ
  • Liên hệ

Độ chính xác tuyệt vời trên các mẫu mờ đục, trong suốt, mờ, thậm chí tối và có độ bão hòa cao.

UltraScan VIS dễ dàng đo cả màu phản xạ và màu truyền cũng như sương mù truyền và đáp ứng các hướng dẫn của CIE, ASTM và USP để đo màu chính xác. UltraScan VIS sử dụng hình học khuếch tán/8° với tính năng bao gồm/loại trừ thành phần phản chiếu tự động. Để đo độ truyền qua, việc sử dụng thiết bị hình cầu mạnh mẽ tuân thủ CIE (chế độ Truyền tổng TTRAN) sẽ loại bỏ một cách hiệu quả tác động của sự tán xạ nhỏ thường thấy trong các mẫu trong suốt.



Do sự phù hợp đặc biệt giữa các thiết bị và độ ổn định lâu dài, bạn có thể tin tưởng rằng sự khác biệt giữa các phép đo là do sự thay đổi màu sắc của sản phẩm chứ không phải do sự biến đổi của thiết bị. Vật liệu nằm trên ranh giới của dung sai được chấp nhận sẽ không bị từ chối một cách không cần thiết.

Khám phá tất cả các tính năng và lợi ích bổ sung bên dưới.


Máy Đo Màu Quang Phổ

Model: UltraScan Vis

1. Nguyên Lý Đo

Nguyên lí đo: Máy quang phổ hai chùm tia

Hình học: Tt/o° hoặc Td/0° theo tiêu chuẩn ASTM 1164, CIE 15:2018

Máy quang phổ: Đầu dò diobe 256 phần tử và độ phân giải cao, cách tử ba chiều lõm

Kích thước cổng/ Diện tích đo: Chiếu sáng 10,5mm(0,41 in)/đo 9,8mm(0,39 in)

Thời gian đo: 2,5 giây

Thời gian đo với haze : 5 giây

Khoảng thời gian đo: tối thiếu 3 giây

Chiều dài đường đo: Lên tới 100mm

Các chế độ truyền: Tổng(TTRAN) và Thông thường(RTRAN) và Haze

Tiêu chuẩn phù hợp:

  • Đo màu: CIE 15:2018, ASTM E1164, DIN 5033 Teil 7 và JIS Z 8741 Điều kiện E, G

  • Haze : ASTM D1003

2. Kỹ thuật

Đường kính quả cầu: 76mm(3in)

Lớp phủ hình cầu: Spectralon™

Dải quang phổ: 400nm-700nm

Độ phân giải bước sóng: <3nm

Băng thông hiệu quả: hình tam giác tương đương 10nm

khoảng thời gian báo cáo: 10nm

phạm vi trắc quang: 0 - 150%

Độ phân giải trắc quang: 0,003%(báo cáo 0,01%)

Nguồn sáng: Mảng LED toàn phổ

Nhấp nháy trên mỗi lần đo: 4 lần nhấp nháy

3. Hiệu suất

Độ lặp lại đo màu (tối đa 30 lần đọc): < 0,02 ∆E* khi phát sóng

Độ lặp lại quang phổ: Độ lệch chuẩn trong vòng 0,1%

Thoả thuận giữa các công cụ:

  • ∆E* (D65/10) < 0,15 (Trung bình) (Bộ lọc truyền)

  • ∆E* (D65/10) < 0,25 (Tối đa) (Bộ lọc truyền)

  • ± 0,30% ở mức 10% TH (HAZE)

 

Tập tin PDF:

Tập tin PDF:

Sản phẩm cùng loại

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Giới thiệu máy kiểm tra độ Gester GT-C12B Máy kiểm tra độ bục vải được sử dụng để xác định độ bền bục của vải dệt thoi hoặc dệt kim, vải không dệt, giấy, da và bảng bằng cách áp dụng tải khí nén dưới màng ngăn cao su của một khu vực cụ thể. cung cấp với một đọc áp suất kỹ thuật số với cơ sở giữ giá trị cực đại, màng cao su tái tạo và hướng dẫn sử dụng thiết bị kẹp với chuông acrylic, hệ thống truyền động tiến và lùi. Cung cấp độ giãn dài chính xác thông tin của các loại vải, lên đến 0,1mm.
Liên hệ

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Máy kiểm tra độ bền kéo của nút bấm được xác định là trách nhiệm của nhà sản xuất hàng may mặc, đảm bảo nút bấm, nút nhấn và các phụ kiện cố định có thể được cố định trên hàng may mặc một cách phù hợp.
Liên hệ

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Máy đo độ bền màu GT-D05 là gì? Máy kiểm tra độ bền mài mòn (Crockmeter) được sử dụng để xác định độ bền màu của vải khi cọ xát khô hoặc ướt. Máy được ứng dụng nhiều trong ngành dệt may, vải sợi, dệt nhuộm…. Crockmeter: được làm bằng chất liệu hộp kim loại, lớp phủ chịu được nhiệt độ cao, dễ dàng vệ sinh và lau chùi máy.
Liên hệ

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Tính năng của máy kiểm tra độ bền màu ma sát GT-D04: - Máy kiểm tra độ bền màu ma sát GT-D04 được sử dụng để xác định độ bền màu của vải khi cọ xát khô hoặc ướt. Giá đỡ mẫu acrylic được ghim đảm bảo việc gắn mẫu nhanh chóng và khả năng lặp lại kết quả. - Hộp kim loại AATCC Crockmeter, lớp phủ nướng nhiệt độ cao, bảo trì dễ dàng. - Động cơ điện, được trang bị bộ đếm điện tử được xác định trước cho hành trình lên đến 9999, thử nghiệm hoàn thành thành công, tự động dừng.
Liên hệ

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Giới thiệu máy kiểm tra độ bền xé vải Gester GT-C11B Máy kiểm tra độ bền xé vải kỹ thuật số này được thiết kế để kiểm tra khả năng chống rách của vật liệu dệt, không dệt theo phương pháp Elmendorf vải, giấy, bìa giấy, màng mỏng, băng thông gió, vật liệu tấm kim loại, v.v.
Liên hệ

Hãng sx: Gester - Trung Quốc

Ứng dụng: Máy kiểm tra độ xé Elmendorf được thiết kế để kiểm tra độ bền xé của vải dệt, vải không dệt, giấy, bìa cứng, màng mỏng, băng thông gió, vật liệu tấm kim loại, v.v.
Liên hệ

Hãng sx: OpTest - Canada

Micro-Scanner đo độ bẩn có thể nhìn thấy bằng ánh sáng thích hợp và ngưỡng tự động theo Phương pháp thử nghiệm Tappi T563 và ISO 5350-4 [không cần điều chỉnh của người vận hành]. Micro-Scanner cũng đo chất lượng tạo tờ, các điểm tương phản ánh sáng như nhựa (có ánh sáng phản chiếu) hoặc lỗ kim (có ánh sáng truyền qua) và độ đồng đều của hình ảnh in rắn. Thiết bị tiêu chuẩn bao gồm bộ nạp dải và các phép đo bằng ánh sáng phản chiếu hoặc truyền qua.
Liên hệ

Hãng sx: OpTest - Canada

Paper Perfect Formation Analyzer (PPF) cách mạng hóa việc tối ưu hóa chất lượng sản phẩm và năng suất bằng cách đo độ đồng đều của tờ giấy ở các “thang độ hình thành” khác nhau. Kết quả đã được chứng minh là có mối tương quan rất tốt với đánh giá trực quan cũng như với các tính chất vật lý khác của giấy.
Liên hệ

Hãng sx: Lumex Instruments - Canada

-Công nghệ hiệu chỉnh đường nền Zeeman phân cực tần số cao (ZHFPM). - Đo đồng thời tín hiệu hấp thụ tổng và hấp thụ nền mẫu cho phép hiệu chỉnh đường nền chính xác với các loại mẫu phức tạp. - Đèn phóng điện không dùng điện cực cường độ cao (EDL) đảm bảo giới hạn phát hiện thấp so với các thiết bị dùng đèn cathode rỗng (HCL), cho phép đo trực tiếp As và Se ở nồng độ dưới ppb mà không cần sử dụng kỹ thuật hydride hóa. - Sử dụng kỹ thuật lò với nhiệt độ đồng đều và ổn định (STPF).
Liên hệ

Hãng sx: Lumex Instruments - Canada

Có bộ đưa mẫu tự động lên đến 59 mẫu. Tự động mở nắp vial mẫu trước khi phân tích để tránh bay hơi và nhiễm bẩn chéo Điện thế +/- 30KV để tăng hiệu suất tách và thời gian phân tích
Liên hệ